存儲處理器測式儀算作存儲處理器構思、生產加工、二極管封裝、測式儀步中的極為核心步,是安全使用要求測量儀器,可以通過對侍測元器DUT(Device Under Test)的加測,有別疵點、手機驗證元器是否有完全符合構思要求、破乳元器好環的環節。中間整流數據測式儀是定期檢查存儲處理器電特點的極為核心的手段其中之一,經常用的測式儀方式 是FIMV(加直流電大小測直流電值直流電)及FVMI(加直流電值直流電測直流電大小),測式儀數據還有開燒壞測式儀(Open/Short Test)、漏直流電大小測式儀(Leakage Test)或是DC數據測式儀(DC Parameters Test)等。